AB 系(xi)列(lie)新(xin)光(guang)天平經濟(ji)型，高精(jing)度.適(shi)用於(yu)實驗(yan)室(shi)和(he)工(gong)業。使用(yong)音(yin)叉(cha)式感測器MMTS（MOno-Metal Tuning-fork Sensor），提(ti)高電(dian)子(zi)天平的(de)量度速度，穩(wen)定(ding)性(xing)，和(he)分辨率(lv).

　　新光天平是(shi)壹種(zhong)高精(jing)度的(de)稱量儀器，主要用(yong)於(yu)精確測量物體(ti)的質(zhi)量。它廣泛應用於多個領域(yu)，包括(kuo)但(dan)不(bu)限於以下(xia)幾(ji)種：

　　1. 實驗(yan)室(shi)研究(jiu)

　　化學實驗(yan)：在(zai)化(hua)學(xue)實驗(yan)中(zhong)用於(yu)精確稱量化學(xue)試劑和(he)樣(yang)品(pin)，確保實驗(yan)的(de)準確性(xing)和(he)可(ke)重(zhong)復性(xing)。

　　生(sheng)物(wu)實驗(yan)：在(zai)生(sheng)物(wu)實驗(yan)中(zhong)，用於(yu)稱量生(sheng)物(wu)樣(yang)品(pin)、藥品(pin)等(deng)，幫(bang)助研(yan)究(jiu)人員進(jin)行精(jing)確的實驗(yan)操作。

　　物理實驗(yan)：在(zai)物(wu)理(li)實驗(yan)中(zhong)，用於(yu)測量物體(ti)的質(zhi)量，以進(jin)行力(li)學(xue)、熱(re)學(xue)等(deng)實驗(yan)。

　　2. 制(zhi)藥行業(ye)

　　藥品(pin)生(sheng)產(chan)：在藥品(pin)生(sheng)產(chan)過程(cheng)中(zhong)用於(yu)精確稱量原料(liao)藥和(he)輔(fu)料(liao)，確保藥品(pin)的(de)質(zhi)量和(he)劑量準確。

　　質(zhi)量控(kong)制：用(yong)於藥品(pin)的(de)質(zhi)量檢測，確保每壹(yi)批次藥品(pin)的(de)質(zhi)量符合標準。

　　3. 食品(pin)行業(ye)

　　食(shi)品(pin)生(sheng)產(chan)：在食(shi)品(pin)生(sheng)產(chan)中(zhong)，用於(yu)精確稱量原材(cai)料(liao)，確保食品(pin)的(de)質(zhi)量和(he)配方(fang)的準確性(xing)。

　　質(zhi)量檢測：用於檢測食品(pin)的(de)質(zhi)量，確保符合食品(pin)安(an)全(quan)標準。

　　4. 工(gong)業制造

　　材(cai)料(liao)檢測：在工(gong)業制造中(zhong)，用於(yu)檢測材(cai)料(liao)的質(zhi)量，確保材(cai)料(liao)符合設(she)計要求。

　　產(chan)品(pin)稱(cheng)重：用(yong)於產(chan)品(pin)的(de)稱重(zhong)和(he)包(bao)裝(zhuang)，確保產(chan)品(pin)的(de)重量符合標準。

　　5. 教育領域(yu)

　　教學實驗(yan)：在(zai)學(xue)校(xiao)的實驗(yan)室(shi)中(zhong)用於(yu)教學實驗(yan)，幫(bang)助(zhu)學(xue)生(sheng)學(xue)習和(he)掌握(wo)精(jing)確稱量的方(fang)法。

　　科研項(xiang)目(mu)：在(zai)高校(xiao)和(he)科(ke)研(yan)機構中(zhong)，用於(yu)各種(zhong)科研項(xiang)目(mu)的(de)稱(cheng)量需求。

　　6. 醫療領域(yu)

　　醫院(yuan)藥房：在醫(yi)院(yuan)藥房中(zhong)，用於(yu)稱量藥品(pin)，確保藥品(pin)劑量的準確性(xing)。

　　醫療器械：用於(yu)稱(cheng)量醫療器械的質(zhi)量，確保醫療器械的性(xing)能符合標準。

　　7. 珠(zhu)寶(bao)行業(ye)

　　珠(zhu)寶(bao)稱(cheng)重：在(zai)珠(zhu)寶(bao)行業(ye)中(zhong)，用於(yu)精確稱量珠(zhu)寶(bao)，確保珠(zhu)寶(bao)的(de)質(zhi)量和(he)價(jia)值(zhi)。

　　8. 環(huan)境監測

　　樣(yang)品(pin)稱(cheng)量：在環(huan)境監測中(zhong)，用於(yu)稱量土壤(rang)、水(shui)樣(yang)等(deng)樣(yang)品(pin)，幫(bang)助進(jin)行環(huan)境分析和(he)檢測。

　　9. 其他應(ying)用(yong)

　　科(ke)研機構：用於(yu)各(ge)種科研(yan)項(xiang)目(mu)中(zhong)的精(jing)確稱量。

　　質(zhi)量檢測機構：用於(yu)對(dui)各(ge)類(lei)產(chan)品(pin)的(de)質(zhi)量進行檢測和(he)認(ren)證。

         新(xin)光(guang)天平的(de)原理(li)、使(shi)用(yong)、維(wei)護(hu)與註意(yi)事項(xiang)：

   壹(yi)、新光天平的(de)原理(li)

　　（壹(yi)）工(gong)作原理(li)

　　新(xin)光天平是(shi)壹種(zhong)高精(jing)度的(de)稱量儀器，其核心(xin)原(yuan)理基於電(dian)磁力平(ping)衡(heng)原(yuan)理。當放置待(dai)稱量物品(pin)時(shi)，天平會通過電(dian)磁力產(chan)生(sheng)壹(yi)個與物品(pin)重(zhong)力大(da)小(xiao)相等(deng)、方(fang)向相反的力，使天平保(bao)持平(ping)衡(heng)。通過測(ce)量電(dian)磁力的(de)大(da)小(xiao)，天平可(ke)以精(jing)確地計算出物(wu)品(pin)的(de)質(zhi)量。這種(zhong)原(yuan)理(li)使得(de)新(xin)光天平能(neng)夠實現(xian)高精(jing)度的(de)稱量，廣泛應用於實驗(yan)室(shi)、制藥、化(hua)工(gong)等(deng)領域(yu)。

　　（二）測(ce)量原理(li)

　　新光(guang)天平通過高精(jing)度的(de)傳感器和(he)微(wei)處(chu)理(li)器(qi)來(lai)實現(xian)測量。傳感器將(jiang)電(dian)磁力轉(zhuan)換為(wei)電(dian)信號，微(wei)處(chu)理(li)器(qi)對(dui)這些(xie)信號進(jin)行處(chu)理(li)和(he)分析，最(zui)終(zhong)顯示出(chu)精確的稱量結果。這種(zhong)測(ce)量方(fang)式不(bu)僅提(ti)高了(le)測量的精(jing)度，還(hai)減(jian)少了(le)人為(wei)誤差。

　　二、新(xin)光(guang)天平的(de)使用(yong)

　　（壹(yi)）準備(bei)工(gong)作

　　環境要求：新光天平應(ying)放置在(zai)平穩(wen)、幹(gan)燥(zao)、無振(zhen)動的(de)環境中(zhong)，避(bi)免陽(yang)光直(zhi)射和(he)強(qiang)風幹擾。理想的使(shi)用環(huan)境溫度(du)為(wei)15℃ - 30℃，相對(dui)濕(shi)度(du)為(wei)45% - 75%。

　　水(shui)平(ping)調整(zheng)：使用(yong)前，確保天平放置在(zai)水(shui)平(ping)的平臺上。通過調(tiao)整(zheng)天平底部(bu)的水(shui)平(ping)腳(jiao)，使天平的(de)水(shui)平(ping)泡居(ju)中(zhong)。

　　預(yu)熱(re)：打(da)開天平電(dian)源(yuan)，預(yu)熱(re)30分鐘，以確保天平的(de)測量精度(du)。

　　校準：在使用(yong)前，進行壹(yi)次校(xiao)準操作。可以使(shi)用標(biao)準砝碼進(jin)行校(xiao)準，確保天平的(de)準確性(xing)。

　　（二）操作步(bu)驟

　　放置物(wu)品(pin)：將(jiang)待(dai)稱(cheng)量物品(pin)輕輕放置在(zai)天平的(de)稱量盤上，避(bi)免物(wu)品(pin)與稱量盤碰(peng)撞。

　　讀(du)取(qu)數(shu)據(ju)：天平會自動(dong)顯(xian)示(shi)稱(cheng)量結果。如(ru)果(guo)需要，可(ke)以切(qie)換不(bu)同(tong)的(de)單(dan)位（如(ru)克、毫克、盎司等(deng)）。

　　記(ji)錄(lu)數據(ju)：記(ji)錄(lu)稱量結果，確保數據(ju)的準確性(xing)。

　　（三(san)）註(zhu)意(yi)事項(xiang)

　　避(bi)免過(guo)載(zai)：不(bu)要超(chao)過(guo)天平的(de)最大(da)稱(cheng)量範(fan)圍，以免損(sun)壞天平。

　　避(bi)免腐(fu)蝕(shi)性(xing)物品(pin)：不(bu)要稱(cheng)量具有腐(fu)蝕(shi)性(xing)的物(wu)品(pin)，以免損(sun)壞天平的(de)稱量盤和(he)傳(chuan)感器。

　　避(bi)免頻(pin)繁(fan)開關(guan)機：頻(pin)繁(fan)開關(guan)機會影響天平的(de)精度(du)和(he)壽(shou)命(ming)，建議(yi)長(chang)時(shi)間使用時(shi)保(bao)持(chi)開機狀(zhuang)態(tai)。

　　三(san)、新(xin)光(guang)天平的(de)維護(hu)

　　（壹(yi)）日常(chang)維護(hu)

　　清(qing)潔(jie)：每次使(shi)用(yong)後，用軟布輕輕擦(ca)拭天平表(biao)面(mian)和(he)稱(cheng)量盤，去除灰(hui)塵(chen)和(he)殘留(liu)物(wu)。

　　檢查電(dian)源(yuan)：定(ding)期(qi)檢查電(dian)源(yuan)線和(he)插(cha)頭是(shi)否(fou)損(sun)壞，確保電(dian)源(yuan)連(lian)接安(an)全(quan)可靠。

　　檢查水(shui)平(ping)：定(ding)期(qi)檢查天平的(de)水(shui)平(ping)狀態，確保天平始(shi)終處(chu)於(yu)水(shui)平(ping)位置。

　　（二）定(ding)期(qi)維(wei)護(hu)

　　校(xiao)準：定(ding)期(qi)進(jin)行校(xiao)準操作，建議(yi)每月(yue)進(jin)行壹(yi)次校(xiao)準，以確保天平的(de)測量精度(du)。

　　檢查傳感器：定(ding)期(qi)檢查傳感器是否正(zheng)常工(gong)作，如(ru)有異(yi)常(chang)，及時(shi)聯系(xi)專(zhuan)業(ye)人員進(jin)行維(wei)修。

　　檢查機械部件(jian)：檢查天平的(de)機械部件(jian)是否有松(song)動或磨(mo)損(sun)現象(xiang)，及時(shi)進(jin)行調(tiao)整(zheng)或更(geng)換。

　　（三(san)）存(cun)儲(chu)環(huan)境

　　環境要求：天平應(ying)存放在(zai)幹(gan)燥(zao)、清潔(jie)、無塵(chen)的環(huan)境中(zhong)，避(bi)免陽(yang)光直(zhi)射和(he)潮(chao)濕(shi)環(huan)境。

　　防塵(chen)保護(hu)：在(zai)不(bu)使用時(shi)，建(jian)議(yi)用(yong)防塵(chen)罩(zhao)覆蓋(gai)天平，防止(zhi)灰(hui)塵(chen)進入(ru)。

　　四、新光天平功(gong)能

　　1. 背(bei)光(guang)LCD顯(xian)示(shi)

　　2. 稱量，十二種(zhong)單(dan)位稱(cheng)量選擇(ze)，包括(kuo)g，ct，oz，ib，ozt，dwt，GN，tl(Hong Kong)，tl(TaiWan)，tl(Singapore，Malaysia)，momme,tola

　　3. 數(shu)件(jian)測量，可計(ji)算零件(jian)數量

　　4. 測量百分比顯示

　　5. 設(she)置過(guo)重、過輕之(zhi)間判(pan)斷

 

　　五、新光(guang)天平特(te)點(dian)

　　可使(shi)用性(xing)和(he)多功能(neng)的排列特(te)點(dian)。

　　在這種(zhong)檔次上采(cai)用(yong)大秤盤。

　　大(da)屏(ping)幕液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，有背(bei)景光，對(dui)眼睛友好(hao)。

　　RS-232C 是標(biao)配。

　　配合產(chan)品(pin)，自(zi)由下(xia)載(zai)“RTS” 數據(ju)軟件(jian)。


 

　　六、新光(guang)天平的(de)註意(yi)事項(xiang)

　　（壹(yi)）安全(quan)操作

　　避(bi)免碰(peng)撞(zhuang)：在(zai)放置和(he)取(qu)出(chu)物(wu)品(pin)時(shi)，動(dong)作(zuo)要輕柔，避(bi)免碰(peng)撞(zhuang)天平。

　　避(bi)免高溫：天平應(ying)遠離(li)高溫環(huan)境，避(bi)免影(ying)響天平的(de)精度(du)和(he)壽(shou)命(ming)。

　　避(bi)免強(qiang)磁場(chang)：避(bi)免在(zai)強(qiang)磁場(chang)環境中(zhong)使用(yong)天平，以免影(ying)響測量結果。

　　（二）測(ce)量準確性(xing)

　　物品(pin)處(chu)理：在(zai)稱量前，確保物品(pin)表(biao)面(mian)無灰(hui)塵(chen)和(he)雜質(zhi)，以免影(ying)響測量結果。

　　重(zhong)復(fu)測(ce)量：為(wei)了確保數據(ju)的可(ke)靠性(xing)，建議(yi)對(dui)同(tong)壹(yi)樣(yang)品(pin)進(jin)行多次測(ce)量，取(qu)平(ping)均值(zhi)作(zuo)為(wei)最終(zhong)結果。

　　環(huan)境影響：避(bi)免在(zai)強(qiang)風或振(zhen)動環(huan)境中(zhong)使用(yong)天平，以免影(ying)響測量精度(du)。

　　（三(san)）設(she)備(bei)保(bao)養

　　定(ding)期(qi)檢查：定(ding)期(qi)檢查天平的(de)各個部件(jian)，確保其正(zheng)常工(gong)作。

　　及時(shi)維(wei)修：如(ru)果(guo)發(fa)現天平有任何(he)異(yi)常(chang)，應及時(shi)聯系(xi)專(zhuan)業(ye)人員進(jin)行維(wei)修，避(bi)免天平損(sun)壞。

　　避(bi)免頻(pin)繁(fan)使(shi)用：避(bi)免長(chang)時(shi)間連續使用(yong)天平，以延(yan)長(chang)其使(shi)用壽(shou)命(ming)。
 

　　壹般(ban)參(can)數：

　　皮(pi)重;    零(ling)到滿負(fu)荷範(fan)圍.

　　跨(kua)度(du)調(tiao)校:   AB…….. 用外(wai)部校(xiao)準法碼, 人工(gong)操作跨度調(tiao)校(xiao).

　　AB-R ………. 有內(nei)置校(xiao)準法碼, 半(ban)自動跨度調校.

　　克服(fu)錯誤:   當(dang)稱(cheng)重(zhong)範(fan)圍滿9個或更(geng)多數字(zi)時(shi), 出(chu)”0-Err’.

　　溫度(du)和(he)濕(shi)度(du)範(fan)圍； 5 ~ 35℃，最(zui)多80%濕(shi)度(du)（沒有冷(leng)凝露(lu)水(shui)）。

　　電(dian)源(yuan)：   輸(shu)入(ru)，AC適(shi)配器，100 ~ 240VAC。  輸(shu)出(chu)直(zhi)流12VDC。

　　輸(shu)出(chu)：  RS232C（Din5p).