金相顯微(wei)鏡的特(te)點特(te)性(xing)

更新(xin)時間(jian)：2023-02-26

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　　金相顯微(wei)鏡系統(tong)是將傳(chuan)統(tong)的(de)光(guang)學(xue)顯微(wei)鏡與計算機(ji)（數碼相機(ji)）通過(guo)光(guang)電(dian)轉(zhuan)換有機的(de)結合在(zai)壹(yi)起，不(bu)僅(jin)可以在目鏡上作(zuo)顯微(wei)觀察，還(hai)能在計(ji)算機（數(shu)碼相機(ji)）顯示(shi)屏幕上觀察實時動(dong)態圖(tu)像，電(dian)腦型(xing)金相顯微(wei)鏡並能將所(suo)需(xu)要的(de)圖片(pian)進行(xing)編輯(ji)、保(bao)存(cun)和打印。

　　金相顯微(wei)鏡壹(yi)般(ban)用於觀(guan)察金屬和礦(kuang)物等不(bu)透(tou)明物體(ti)金相組織。這(zhe)些不(bu)透(tou)明物體(ti)無(wu)法(fa)在普(pu)通的(de)透(tou)射(she)光(guang)顯微(wei)鏡中(zhong)觀察，因(yin)此金相和普(pu)通顯微(wei)鏡的主(zhu)要差(cha)別在於前(qian)者(zhe)以反射(she)光(guang)，而(er)後(hou)者(zhe)以透(tou)射(she)光(guang)照明。在(zai)金相顯微(wei)鏡中(zhong)照明光(guang)束(shu)從(cong)物鏡方(fang)向(xiang)射(she)到被(bei)觀(guan)察物體(ti)表面(mian)，被(bei)物面反射(she)後再(zai)返(fan)回物鏡成像。這(zhe)種(zhong)反射(she)照明方(fang)式也廣(guang)泛用於集(ji)成電路矽(gui)片(pian)的(de)檢(jian)測(ce)工作(zuo)。

　　金相顯微(wei)鏡的特(te)點特(te)性(xing)：

　　金相學(xue)主(zhu)要指借助(zhu)光(guang)學(xue)（金相）顯微(wei)鏡和體(ti)視(shi)顯微(wei)鏡等對(dui)材料顯微(wei)組織、低(di)倍(bei)組織和斷(duan)口組織等(deng)進行(xing)分(fen)析(xi)研究和表征的材料學(xue)科(ke)分(fen)支(zhi)，既包含(han)材料顯微(wei)組織的(de)成像及其定(ding)性(xing)、定量表征，亦包含(han)必(bi)要的(de)樣品制備(bei)、準備(bei)和取(qu)樣方(fang)法。其主(zhu)要反映和表征構成材料的(de)相(xiang)和組織組成物、晶(jing)粒（亦包括(kuo)可能存在(zai)的亞晶(jing)）、非(fei)金屬夾(jia)雜(za)物乃至某(mou)些晶(jing)體(ti)缺陷（例如(ru)位錯）的(de)數量、形(xing)貌、大(da)小(xiao)、分(fen)布、取(qu)向(xiang)、空間(jian)排(pai)布狀態(tai)等(deng)。